안녕하십니까?

1. 자석식 DFT gage는 자성을 이용하기 때문에 피도체의 기하학적 형상에 의하여 많은 영향을 받는다고 합니다.  곡률반경, 모서리, 구멍 부위에 인접해 있으면 자성의 힘 세기가 균일한 다른 부위에 비하여 다르게 될 수 있기 때문입니다. 즉 이러한 부위에서의 측정값은 신뢰성이 낮기 때문에 평균값을 구하는 검사에서 측정를 피하라고 하고 있습니다.

2. 모서리 부위에서 도막두께를 측정할 수는 있으나, 측정할려면 그 부위에서 보정을 한 후에 측정할 수는 있습니다.

3. 자세한 사항은 SSPC PA-2( May 1, 2004년판)을 참조하시기 바라며, 전자식도 동일한 자석식입니다.

감사합니다